Новости

о проводимых в музее мероприятиях, событиях и выставках

В рамках программы "Пушкинская карта" наш музей посетили учащиеся МБОУ «Кочетовская СОШ».

Рейтинг:  0 / 5

Звезда не активнаЗвезда не активнаЗвезда не активнаЗвезда не активнаЗвезда не активна
 

JRTF sqDbkA

В рамках программы "Пушкинская карта" наш музей посетили учащиеся МБОУ «Кочетовская СОШ».

Обзорная экскурсия по залам музея позволила ребятам погрузиться в богатую историю своего края, узнать о традициях и быте местных жителей, а также о значимых событиях, оставивших след в памяти поколений. Мы уверены, что такое взаимодействие с культурным наследием формирует в детях уважение к своим корням и вдохновляет их на дальнейшие исследования!

G2 5ZAKHt1o

vyrZjIjFksI

 

Поделиться статьей в социальных сетях:

106295491 1184006791935210 2963334177736163022 o

card pushkin neon w bank CMYK-1

vakcina

button pushkin2

ФОТОГАЛЕРЕЯ

Поклон тебе, Великая Победа! Поклон тебе, Великая Победа! Поклон тебе, Великая Победа! Поклон тебе, Великая Победа! Поклон тебе, Великая Победа! Поклон тебе, Великая Победа! Поклон тебе, Великая Победа! Поклон тебе, Великая Победа!

Текущие мероприятия

  • Выставка работ Анатолия Попова "Когда тоскует соловей…"

    (27.08.2026 14:00)
  • Выставка моделей современной военной техники армии РФ

    (04.08.2026 14:02)

Счётчики посещаемости

Яндекс.Метрика

 

Контактные данные

  •     393760, Тамбовская область, г. Мичуринск, ул. Советская, д. 297Г

  •     8 (47545) 5-21-70

  •    mich.kraeved.museum@mail.ru

Вышестоящая организация

Управление по развитию культуры и спорта администрации города Мичуринска

  •     8 (47545) 5-30-89

  •    cult6827@mail.ru

  •    http://michcult.ru

© Мичуринский Краеведческий Музей. Все права защищены.

Search

Мы используем cookie

Во время посещения сайта вы соглашаетесь с тем, что мы обрабатываем ваши персональные данные с использованием метрических программ. Подробнее

Мы используем cookie

Во время посещения сайта вы соглашаетесь с тем, что мы обрабатываем ваши персональные данные с использованием метрических программ. Подробнее