Новости

о проводимых в музее мероприятиях, событиях и выставках

Фонды музея пополнились работой С. В. Сазыкина

Рейтинг:  0 / 5

Звезда не активнаЗвезда не активнаЗвезда не активнаЗвезда не активнаЗвезда не активна
 

Rnwv9Vg6TKc

Музей жив, пока в нем есть экспонаты. Попадают экспонаты в музейные коллекции часто благодаря неравнодушным людям, которые безвозмездно приносят предметы, представляющие собой определенную культурную, историческую или краеведческую ценность.
Фонды нашего музея пополнились линогравюрой «Ильинский храм» Сергея Сазыкина, которую музею подарила Татьяна Валентиновна Курсакова. Выражаем огромную благодарность Татьяне Валентиновне за неравнодушие и любовь к культуре нашего города.

 

Поделиться статьей в социальных сетях:

106295491 1184006791935210 2963334177736163022 o

card pushkin neon w bank CMYK-1

vakcina

button pushkin2

ФОТОГАЛЕРЕЯ

Поклон тебе, Великая Победа! Поклон тебе, Великая Победа! Поклон тебе, Великая Победа! Поклон тебе, Великая Победа! Поклон тебе, Великая Победа! Поклон тебе, Великая Победа! Поклон тебе, Великая Победа! Поклон тебе, Великая Победа!

Текущие мероприятия

  • Выставка детских работ "Здравствуйте, Иван Владимирович!" (совместно с дхш им. А. М. Герасимова)

    (09.01.2026 12:00)
  • Выставка "И. В. Мичурин. Хрестоматийный образ"

    (25.10.2025 13:47)

Счётчики посещаемости

Яндекс.Метрика

 

Контактные данные

  •     393760, Тамбовская область, г. Мичуринск, ул. Советская, д. 297Г

  •     8 (47545) 5-21-70

  •    mich.kraeved.museum@mail.ru

Вышестоящая организация

Управление по развитию культуры и спорта администрации города Мичуринска

  •     8 (47545) 5-30-89

  •    cult6827@mail.ru

  •    http://michcult.ru

© Мичуринский Краеведческий Музей. Все права защищены.

Search

Мы используем cookie

Во время посещения сайта вы соглашаетесь с тем, что мы обрабатываем ваши персональные данные с использованием метрических программ. Подробнее

Мы используем cookie

Во время посещения сайта вы соглашаетесь с тем, что мы обрабатываем ваши персональные данные с использованием метрических программ. Подробнее