Новости

о проводимых в музее мероприятиях, событиях и выставках

Музей достижений мичуринской науки посетили гости из Китая

Рейтинг:  0 / 5

Звезда не активнаЗвезда не активнаЗвезда не активнаЗвезда не активнаЗвезда не активна
 

LogKitaici

На этих выходных Музей достижений мичуринской науки (филиал Мичуринского краеведческого музея) посетили гости из Китайской Народной Республики. Внимание гостей привлекла деятельность Ивана Владимировича Мичурина, как оказалось, о учёном - селекционере хорошо знают в Китае. Экскурсию для гостей по музею провела Светлана Юрьевна Сазонова, рассказав не только о научной деятельности Ивана Владимировича, но и о его учениках и последователях.

bVE5HClWBe0

 

Поделиться статьей в социальных сетях:

106295491 1184006791935210 2963334177736163022 o

card pushkin neon w bank CMYK-1

vakcina

button pushkin2

ФОТОГАЛЕРЕЯ

Поклон тебе, Великая Победа! Поклон тебе, Великая Победа! Поклон тебе, Великая Победа! Поклон тебе, Великая Победа! Поклон тебе, Великая Победа! Поклон тебе, Великая Победа! Поклон тебе, Великая Победа! Поклон тебе, Великая Победа!

АРХИВ НОВОСТЕЙ

Июнь 2025
Пн Вт Ср Чт Пт Сб Вс
26 27 28 29 30 31 1
2 3 4 5 6 7 8
9 10 11 12 13 14 15
16 17 18 19 20 21 22
23 24 25 26 27 28 29
30 1 2 3 4 5 6

Текущие мероприятия

  • Выставка "Была весна - была победа!"

    (01.04.2025 05:50)

Счётчики посещаемости

Яндекс.Метрика

 

Контактные данные

  •     393760, Тамбовская область, г. Мичуринск, ул. Советская, д. 297Г

  •     8 (47545) 5-21-70

  •    mich.kraeved.museum@mail.ru

Вышестоящая организация

Управление по развитию культуры и спорта администрации города Мичуринска

  •     8 (47545) 5-30-89

  •    cult6827@mail.ru

  •    http://michcult.ru

© Мичуринский Краеведческий Музей. Все права защищены.

Search

Мы используем cookie

Во время посещения сайта вы соглашаетесь с тем, что мы обрабатываем ваши персональные данные с использованием метрических программ. Подробнее

Мы используем cookie

Во время посещения сайта вы соглашаетесь с тем, что мы обрабатываем ваши персональные данные с использованием метрических программ. Подробнее